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半导体光学检测设备
检测之眼——晶圆测试机（Wafer Probers）这台大型的机械巨擘，如同舞台上的魔术师，通过精确的升降动作，轻盈地将晶圆与测试设备无缝对接。它的存在，让测试过程如丝般流畅，确保在不损伤晶圆的前提下，对海量芯片进行高效且精确的测试。
D自动光学检测系统，专为晶圆AOI自动光学检测精心设计，是一款高度自动化的三维光学检测设备，适用于SMT生产线和半导体制造过程中的关键环节。这款系统拥有显著的优势：作为世界领先的超精密全3D AOI技术，它采用了无盲点的12投影云纹三维检测，确保了全面且精确的检测性能。
晶圆测试机（Wafer Probers）：这些大型机械设备如同魔术师，能够精确地将晶圆与测试设备对接，确保在不损伤晶圆的情况下高效、准确地进行芯片测试。 测试头（Test Heads）：这些设备嵌有测试探针，能够与晶圆测试机紧密配合，通过精细的触探传递测试信号并收集数据，多探针设计显著提高了测试效率。
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